托盘芯片检测系统
一站式芯片检测解决方案
Apexera Station 将工业级成像系统，高精度 XY 运动控制，AI视觉检测软件整合于单一设备中，为托盘式芯片提供完整自动检测方案。无需复杂配置，即可快速导入生产现场，帮助企业提升检测效率，降低人为误判风险。
精密成像
+
XY 自动化运动平台
+
视觉检测软件
三者集成于 Apexera Station
AI 视觉检测
Apexera Station
芯片方向检测芯片丝印检测NG 精确定位
上料调用芯片 ID 自动加载配置
检测单帧图像同步完成朝向 + 丝印检测
定位检测结果与料盘物理槽位精确对应
监控实时查看检测结果与生产数据
检测速度更快
操作门槛更低
综合成本更优
检测应用
AI视觉检测能力
适用于料盘半导体器件，在下道工序前，核验芯片朝向、表面丝印及放置状态。
芯片方向检测
逐颗自动检测芯片，识别芯片倒置、角度偏斜等不良，并在料盘布局中标注对应 NG 槽位。
芯片丝印检测
基于实拍芯片图像比对参考模板，识别丝印缺失、错印、字符不一致等缺陷。
为什么选择 Apexera Station
捕捉关键异常，让生产持续稳定运行
Apexera Station 兼顾稳定的芯片检测性能与自动化、易操作的作业流程，防止朝向、丝印不良流入后段工序，同时提升检测效率。
稳定品质管控
按统一标准全检每一颗芯片，在下工序前识别：朝向错误、丝印不符、芯片缺失等问题。
朝向丝印双检
稳定输出 OK/NG 判定结果
空料 / 错料识别
NG 芯片精准定位
提升检测效率
自动化执行重复质检工作，简化产品换型，支持多料号芯片高效检测。
多芯片并行检测
基于芯片 ID 一键加载配置
现场向导式模板配置
生产数据实时监控
核心功能
围绕产线实际作业流程设计
从新建芯片检测方案，到快速定位料盘内不良芯片，Apexera Station 贴合现场操作员作业习惯。
方向 + 丝印双检
单张图像一次性完成朝向与丝印两项校验。设备在判断芯片摆放角度是否正确的同时同步核对表面丝印。
一芯片一配置
输入芯片 ID 即可调出绑定的 托盘、拍照范围、模板和检测项，没有复杂的 Recipe 和工单概念。新员工也能快速上手，减少人为配置错误。
新料号向导式建档
遇到新芯片时，按“创建芯片 → 创建托盘 → 现场标定模板”完成配置，不需要工程师远程调参，也不需要回厂训练模型。
一拍多颗
支持 1×1、2×1、1×2、2×3 等拍照范围，可以根据芯片尺寸和精度要求灵活调整。小芯片一拍多颗，大幅提升 UPH，兼顾精度与效率。
1:1料盘热图
热图的行列与实物料盘完全对应，用颜色加符号标记 OK、NG 和空位。工人按图直接定位 NG 件，挑料快、不易挑错。
灵活适配
一台设备，覆盖多种检测需求
不增加现场操作负担，兼容多种芯片类型与多样化质检需求。
兼容多品类芯片
无需重新训练模型，即可检测不同尺寸、外形的料盘载芯片。
新产品快速导入
依托向导式配置工具，快速完成新料号芯片模板、料盘、视场参数配置，快速上线量产检测。
轻量化整机设计
光学、机械核心参数在初次调试阶段一次性标定；日常生产仅需 XY 微调。
常见问题
常见问题
Apexera Station是什么?
一款基于AI视觉的托盘芯片检测设备，25秒完成一整盘芯片的方向和丝印双检测，逐格精准定位NG，防止芯片方向和错料流入下游。适用于烧录厂/工位，SMT/EMS来料检测。
芯片轻微偏移或旋转时，是否仍可检测？
可以。系统具备智能定位能力，可自动识别芯片位置变化，槽位内正常范围内的位移、旋转偏差，无需人工重新对齐也能保持稳定检测。
料盘槽位为空时如何处理？
系统可自动识别缺失芯片，并准确记录异常位置。同时可区分不同NG类型，例如：芯片缺失，方向错误，丝印异常，帮助操作人员快速定位问题。
能否查看芯片被判为不良的具体原因？
可以。系统会显示检测影像及判定结果，让操作人员快速了解异常原因，提高问题分析效率。
是否可以自定义丝印的检测内容？
可以。用户可根据产品需求设定需要验证的信息，例如：产品型号，批次信息，特定字符内容等以满足不同产品检测需求。
切回已配置完成的芯片型号，是否需要重新设定？
不需要。选择对应芯片ID后，系统会自动加载已保存的Tray、影像范围、模板及检测参数，可立即开始检测。
设备运行过程中是否需要人工校准？
不需要。系统会自动进行偏差修正，保持检测过程中的定位准确性。